Вавилов В.С., Кив А.Е., Ниязова О.Р.
Механизмы образования и миграции дефектов в полупроводниках, 1981 г.

Файлы
Доступность и MD5 хэшФормат Размер
28c9dc2ad55edee612054a7b900abca3djvu 5.28 мб